+7-495-933-43-17
microscop@microscop.ru

Световая микроскопия в прошедшем/отраженном свете, светлое/темное поле, фазовый контраст.

Цифровая съемка.

Обработка изображений по 60+ параметрам в ПО «ImageScope».

Световой микроскоп
Leica DM LB2

Съемка массивных и тонких образцов с получением картины флуоресценции, в том числе серии изображений по глубине.

Доступные длины волн осветителя:
Laser: 405 нм, 488 нм, 561 нм, 640 нм.
Oligochrome: 402 нм, 490 нм, 572 нм.

Синхронизация по технологии MAPS со всеми растровыми электронными микроскопами FEI.

Корреляционная микроскопия (CLEM).

Конфокальный микроскоп
FEI CorrSight

SEM: Микроскопия поверхности с разрешением от 0,7 нм(от 200 В до 30 кВ).

Режим просвечивающей электронной микроскопии.

Технология MAPS: съемка панорамы размером до 10х10 см и разрешением от нескольких нм/пиксель.

EDS: Энергодисперсионный рентгеновский микроанализ, элементное картирование (от Be до U).

FIB: Ионная микроскопия с разрешением от 4 нм. Локальное напыление и травление материалов, выполнение поперечных сечений с нанометровой точностью. ФИП-томография. Нанопрототипирование. Изготовление образцов для ПЭМ.

Двулучевая аналитическая система FEI Helios NanoLab 660

Динамические эксперименты insitu (растяжение-сжатие, охлаждение-нагрев, характеризация смачиваемости).

EDS: Энергодисперсионный рентгеновский микроанализ, элементное картирование (от Bдо U).

SEM: Режим высокого вакуума – микроскопия поверхности с разрешением от 0,7 нм(от 200 В до 30 кВ). Режим низкого вакуума – микроскопия диэлектриков в исходном состоянии. Режим естественной среды – микроскопия влажных, газящих, биологических объектов в исходномсостоянии.

Технология MAPS: съемка панорамы размером до 10х10 см и разрешением от нескольких нм/пиксель.

FIB: Ионная микроскопия с разрешением от 4 нм. Локальное напыление и травление материалов, выполнение поперечных сечений с нанометровой точностью. ФИП-томография. Нанопрототипирование. Изготовление образцов для ПЭМ.

Двулучевая аналитическая система FEI Versa 3D ESEM

SEM: Режим высокого вакуума -микроскопия поверхности с разрешением от 1 нм(от 200 В до 30 кВ).

Режим просвечивающей электронной микроскопии.

Технология MAPS: съемка панорамы размером до 10x10 см и разрешением от нескольких нм/пиксель.

EDS: Энергодисперсионный рентгеновский микроанализ, элементное картирование (от B до U).

Nanomin – автоматизированное определение минерального и элементного состава (> 3500 минералов).

VolumeScope – 3D томография биологических тканей (ультрамикротом).

Растровый электронный микроскоп FEI Teneo

EFTEM, EELS: определение химического состава; анализ легких элементов; фильтрованные по энергии изображения с разрешением от 1 нм;

DENS: динамический in-situ нагрев до 1300°С.

S/TEM: информационный предел 0,14 нм; разрешение по точкам – 0,19 нм; электронная дифракция (SAED, CBED).

STEM-EDS: картирование/профилирование элементного состава с разрешением > 1 нм.

Просвечивающий электронный микроскоп FEI Tecnai G² F20

Неразрушающее исследование объемной микроструктуры.

Напряжение на источнике: 30-160 кВ.

Максимальный вес образца: 15 кг.

Разрешение: 1 мкм.

Рентгеновский микротомограф Xradia Versa XRM-500

Неразрушающее исследование объемной микроструктуры.

Напряжение на источнике: 20-160 кВ.

Максимальный вес образца: 15 кг.

Разрешение: 1 мкм.

Геликоидальная траектория сканирования.

Рентгеновский микротомограф FEI Heliscan Micro-CT

Исследование любых вакуум-совместимых образцов.

Качественный и количественный химический анализ поверхностных слоев (до 10 нм), картирование поверхности с пространственным разрешением от 10 мкм.

Профилирование элементного состава по глубине с разрешением 0,1-10 нм c послойным травлением ионами аргона.

Определяемые элементы - от Li до U.

Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр PHI VersaProbe II

Неразрушающий экспрессный метод определения элементного состава от Na до U, в том числе в точке, построение профилей и карт распределения состава.

Пространственное разрешение от 10 мкм.

Анализ на воздухе или в вакууме.

Любые образцы, включая жидкости.

Отсутствие пробоподготовки.

Рентгенофлуоресцентный спектрометр EDAX ORBIS PC Micro XRF

Комбинированный видео и лазерный канал, одновременное получение данных о концентрации, размерах и форме частиц в диапазоне 0,1-3600 мкм.

Модульный дизайн для анализа частиц в жидкой среде, эмульсиях, сухих порошках, волокнах, горячих жидкостях.

Анализатор частиц
Ambivalue EyeTech
(гранулометрический анализ)

Ускоряющее напряжение – 10 - 25 кВ.

Разрешение в режиме высокого вакуума при 15 кВ - 50 нм.

Детектор – BSE.

Определяемые элементы – от Be до U.

Количество минералов в базе – 3500.

Система автоматизированного определение минерального состава FEI QEMSCAN WellSite

Магнетронное напыление золота.

Термическое напыление углерода.

Система пробоподготовки (напыления) для РЭМ
SPI Sputter/Carbon Coater

Напыление пленки материала толщиной от единиц до сотен нанометров.

Обработка изображений, результатов томографии.

Сегментация, продвинутая визуализация и анализ данных.

Расчет физических характеристик и моделирование.

Рабочая станция
HP Z8 с ПО FEI PerGeos

Обработка изображений, результатов томографии.

Сегментация, продвинутая визуализация и анализ данных.

Рабочая станция
HP Z820 с ПО FEI Avizo

Обработка изображений, результатов томографии.

Сегментация, продвинутая визуализация и анализ данных.

Расчет физических характеристик и моделирование.

Рабочая станция
ПО CSM Tools

+7-495-933-43-17

microscop@microscop.ru

Москва, Сколковское шоссе, д.45, офис 20 (корпус "Урал")