«Мы понимаем, что за каждым образцом в микроэлектронике стоит важная задача, сроки и ответственность. Поэтому для нас важно не просто провести анализ, а помочь вам разобраться в причине проблемы. Именно для этого и существует наша лаборатория»

МИКРОЭЛЕКТРОНИКА

Анализ многослойных структур и межсоединений
Анализ микро- и наноструктуры полупроводниковых материалов
Выявление дефектов кристалла, тонких пленок и слоев
Исследование топологии, геометрии и измерение размеров элементов интегральных микросхем
Анализ качества металлизации, контактных площадок и паяных соединений
Исследование причин отказов и деградации электронных компонентов
Анализ состава слоев и тонких пленок
Анализ примесей, загрязнений и технологических дефектов
Исследование химического состояния поверхности и межфазных границ
РЕШАЕМЫЕ ЗАДАЧИ
ОБОРУДОВАНИЕ
Системы пробоподготовки
рентгеновский микротомограф FEI Heliscan Micro-CT
Рентгеновский микротомограф
Двулучевая аналитическая система
Фотоэлектронный спектрометр
Просвечивающий микроскоп
Команда лаборатории
+7-495-933-43-17
microscop@microscop.ru
Москва, Сколковское шоссе, д.45, офис 20 (корпус "Урал")