Лабораторный анализ и контроль качества продукции

ЛАБОРАТОРНЫЙ АНАЛИЗ И КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА ПРОДУКЦИИ

Экспертный анализ микроструктуры и состава без затрат на собственное оборудование и в кратчайшие сроки
«Микромир определяет свойства, поведение и надежность материалов и изделий. Наша миссия – соединить микромир с окружающим миром, сделав его доступным и понятным для решения научных и технических задач.

Вот уже более 20 лет мы помогаем университетам, академическим институтами промышленным предприятиям проводить исследования мирового уровня. Высокотехнологичная лаборатория СМА объединяет весь цикл исследований от пробоподготовки до комплексного 2Dи 3D анализа методами световой, рентгеновской и электронной микроскопии. Наши современные методы исследований позволяют определять морфологию, структуру, химический, элементный и минеральный состав материалов.

Мы будем рады предоставить вам лабораторные услуги, поможем избежать серьезных капитальных вложений с вашей стороны и станем надежным партнером в решении ваших актуальных задач».
Владимир Шкловер, директор ООО СМА
Владимир Шкловер, директор ООО СМА
Владимир Шкловер, директор ООО СМА

ОБЛАСТИ ПРИМЕНЕНИЯ

МАТЕРИАЛО-ВЕДЕНИЕ

МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ

Металлы и сплавы
Материалы для аддитивных технологий
Композитные материалы
Стекла и полимеры
Керамические материалы
Строительные материалы
Наноматериалы и наночастицы
Катализаторы
Тонкопленочные покрытия

МИКРО-ЭЛЕКТРОНИКА

Микроэлектромехани-ческие системы (МЭМС)

МИКРОЭЛЕКТРОНИКА

Полупроводниковые материалы
Гетероструктуры и тонкие пленки
Интегральные микросхемы
Микроэлектромеханические системы (МЭМС)
Печатные платы
Батареи и аккумуляторы
Материаловедение
Микроэлектроника
Косметические средства
Лекарственные препараты
Биосовместимые материалы

БИОЛОГИЯ И МЕДИЦИНА

Имплантаты и протезы
Фиксированные биологические ткани
Наночастицы
Биология и медицина
Сопровождение геологоразведки, разработки и обогащения рудных месторождений твердых полезных ископаемых

ПРИРОДНЫЕ РЕСУРСЫ

Определение текстурно-структурных особенностей и минерального состава горных пород
Моделирование фильтрационно-емкостных свойств пород коллекторов нефти и газа
Природные ресурсы
макро
микро
нано

УСЛУГИ И МЕТОДЫ

Система пробопоготовки
Системы пробоподготовки
Оптический микроскоп
Оптический микроскоп
Анализатор частиц
Анализатор частиц
Рентгенофлуоресцентный спектрометр
Рентгенофлуоресцентный спектрометр
Конфокальный микроскоп
Конфокальный микроскоп
Комплекс автоматической минералогии
Комплекс автоматической минералогии
Рентгеновский микротомограф
Рентгеновский микротомограф
Двулучевая аналитическая система
Двулучевая аналитическая система
Фотоэлектронный спектрометр
Фотоэлектронный спектрометр
Просвечивающий микроскоп
Просвечивающий микроскоп
растровая электронная микроскопия
фокусированный ионный пучок
режим естественной среды и низкого вакуума
просвечивающая электронная микроскопия
cканирующий режим (STEM, HAADF)
съемка с атомарным разрешением
электронная дифракция
эксперименты с in-situ нагревом образца до 1300°С

ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ

спектроскопия характеристических потерь энергии электронами
минералогическое картирование аншлифов (Maps Mineralogy, QEMSCAN)
рентгенофлуоресцентный анализ
энергодисперсионный рентгеновский микроанализ
рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия
профилирование элементного состава по глубине

СПЕКТРАЛЬНЫЕ МЕТОДЫ

рентгеновская микротомография
световая микроскопия
флуоресцентная конфокальная микроскопия
лазерная и оптическая гранулометрия

ОПТИЧЕСКИЕ И РЕНТГЕНОВСКИЕ МЕТОДЫ

негативное контрастирование биоматериалов
напыление токопроводящих слоев
изготовление аншлифов
изготовление образцов для просвечивающей электронной микроскопии

ПРОБОПОДГОТОВКА

+7-495-933-43-17
microscop@microscop.ru
Москва, Сколковское шоссе, д.45, офис 20 (корпус "Урал")